克服复杂的3D封装挑战

从1998年年起,Abob体彩mkor Technology公司一直都是开发和大批量生产,低成本的3D封装技术的引领者。通过部署策略,我们的开发涵盖需要3D技术的各种应用和封装平台。客户能从此策略当中获益,因为3D封装解决方案在多个工厂内以低成本更有效地符合相关条件,实现大批量生产。

重要的3D平台技术包括:

  • 适用于更轻薄,高密度基板技术的设计规则和基础设施
  • 先进的晶圆减薄和处理系统
  • 更轻薄的晶粒贴装和晶粒堆叠工艺
  • 高密度和小线弧焊线
  • 无铅及环保绿色材料组合
  • 倒装芯片和焊线混合技术堆叠
  • 一站式晶粒和封装堆叠组装与测试流程

晶粒堆叠

安靠的晶片堆叠技术被多个工厂和产品线广泛用于大批量生产。新一代晶片堆叠技术拥有处理晶圆,将晶片减薄到35微米以下的能力。凭借尖端的晶片贴装,划片间距,焊线和倒装芯片封装实力,它能够被可靠地与多达16层主动器件堆叠和互连。

晶粒堆叠技术已能实现24层堆叠,不过,大多数大于9层器件的堆叠都使用晶粒和封装堆叠组合技术,以克服复杂的测试,成品率和后勤限制。

晶片堆叠还被广泛运用于传统的引线框架封装,包括QFPMLF®SOP格式。利用安靠适用于大批量,低成本引线框架生产的行业领先的基础设施,系统设计可以在印刷电路板面积和整体成本方面实现大量的节省。

封装堆叠

Amkor公司在完全组装和测试封装堆叠方面提供具有重要意义的创新,以克服与复杂晶粒堆叠相关的技术,业务和后勤限制.Amkor的先进层叠封装(POP)解决方案包括:

底部可堆叠极小节距BGA(PSvfBGA)采用焊线或混合(FC和焊线)堆叠支持单晶粒和堆叠晶粒,它被运用于倒装芯片(FC)应用以通过测试和SMT处理改善翘曲控制和封装完整性。

底部可堆叠倒装芯片芯片尺寸封装(PSfcCSP)在FCCSP组装流水线上采用集成PSvfBGA封装堆叠设施特点的外露式晶粒底部封装.PSfcCSP的薄型外露式FC晶粒实现0.5毫米节距的小节距堆叠接口,它是中心模塑PSvfBGA结构的挑战之一。

穿塑通孔(TMV®是我们的新一代POP解决方案,它的互连通孔穿透模塑盖.TMV技术提供稳定的底部封装,让使用更大晶粒/封装比的更轻薄基板成为可能.TMV的PoP可以支持单晶粒,堆叠晶粒或FC设计。此封装是适用于新兴0.4毫米节距低功耗DDR2和DDR3的理想解决方案,能够满足储存器的接口要求。另外,TMV还能使堆叠接口兼容密度为0.3毫米及更小的焊球节距。

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