以电气方式连接多晶粒的封装技术

安靠积极,有策略地推进芯片内建芯片(COC)的研究和开发.CoC(DSBGA / DSMBGA)的设计无需硅通孔(TSV)而以电气方式连接多晶片。小于100微米的面对面小间距倒装芯片互连实现了电气互连。母晶片通过倒装芯片凸块或焊线与封装相连,一般以粗间距与封装匹配。两个(或更多)晶片能以更快的速度更高效地传输,采用更高频率带宽,并减小电阻(R),电感(L)和电容电阻,而成本比TSV更低。

在焊线封装互连中,COC通过母晶粒上的外围焊线连接至封装基板

大会也可以通过POSSUM™方式连接。通过此方式,母晶片以小于100微米的小间距倒装芯片互连和粗节距凸块与封装基板互连。子晶片经过减薄以填充封装组装期间的空隙.POSSUM™方式的附加优点则缩短产销监管链和整体封装的ž轴高度。

为了补充COC,Amkor公司的芯片晶圆(全体)使母亲晶圆不锯开。相反,它被用作填充有锯女儿模具基板。除了大会的诸多优点,牛提供了简化的物流和芯片组测试的好处。两个200和300毫米的具有广泛的管芯尺寸和芯片堆叠厚度的支撑

Amkor公司通过微传感器,汽车微控制器,无线,光电和移动领域各种应用中的行为准则技术为大量产品提供支持。

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