填补TSV和传统WLFO / FOWLP之间的差距

备受赞誉的硅晶圆集成扇出型技术(SWIFT®/ HDFO)减小单晶片和多晶片应用的面积和剖面,并增加I / O的数量及电路密度。

SWIFT的独特特性要部分归功于与此项创新晶圆级封装技术相关的小间距功能。它使应用积极主动的设计规则成为现实,这一点有别于传统的WLFO和基于层压板的封装。另外,SWIFT还能被用于建立先进的三维结构,以应对新兴移动和网络应用中日益高涨的IC集成需求。

SWIFT的特色包括:

  • 聚合物基电介质
  • 多晶粒和大晶粒封装
  • 大体积封装
  • 互连密度缩小至2微米节距(SOC划分应用的关键)
  • 铜柱晶片互连缩小至30微米间距
  • 3D /层叠封装功能采用穿塑通孔(TMV®)或高铜柱
  • 符合JEDEC MSL3 CLR和BLR的要求

关键封装技术让此类独特的SWIFT功能成为可能。通过步进式成像设备实现2/2微米间距,以及SoC的划分和网络应用中的极高密度晶片连接,此类芯片通常会采用2.5D TSV。小间距晶片微凸块为先进产品提供高密度互连,例如,处理器和基带设备等。除此以外,高铜柱实现高密度垂直接口,以便于在SWIFT结构顶部贴装先进的储存器设备。

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