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EDP​​S 2020

bob体彩Amkor Technology公司邀请您在电子设计流程研讨会（EDPS）免费的虚拟事件来参加我们9月30日至10月1日，2020年EDPS 2020是用于先进的芯片和系统设计流程的主要论坛。

Amkor的杰拉德·约翰，高级总监 - FCBGA，将展出“使用机器学习来优化半导体测试bob软件在5:50 PM PST” 10月1日。

概要：

机械学习（マシンラーニング，ML）は，人工知能（AI）分野の一部とされる技术であり，システムがデータから学习し，パターンを识别し，人间の介入を最小限に抑えて意思决定を行うことができるという考えに基づいています.MLは，多くの场合，大量のデータに対して分析を行い，分析モデルの构筑を自动化し，事象の発生确率をユーザー（人间，机械，呼び出す关数）に提供するための予测ツールとして利用されます。これまでのところ，テスティングの分野はMLを采用しておらず，従来の制品テストスイートをMLアルゴリズムによって选択されたテストスイートに置き换えるという方法を継続し，パラダイムシフトに懐疑的な见方を続けています。この懐疑的な见方は，MLへのなじみが薄いこと，MLの机能を部分的にしか理解していないこと，简単に使えるツールがないこと，机械を训练してデータを识别するための作业量が多いことなど，复数の要因が重なった结果であると推测されます。さらに，MLが提案した圧缩されたテストスイートを実行することで，テストエスケープの発生や制品品质に対する潜在的な影响についての疑问が生じます。本プレゼンでは，オープンショートテストを例に使い，MLを用いた半导体テストの最适化に光を当てます。